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學術成果

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期刊論文
出版日期2017-02-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)A Novel Localized-Trapped-Charge-Induced Threshold Voltage Model for Double-Fin Multi-Channel FETs (DFMcFETs)
期刊名IEEE Trans on Device and Material Reliability (TDMR)
卷數17
期數2
起頁291
迄頁297
總頁數7
作者中文名江德光
作者英文名Te-Kung Chiang
全部作者Hong-Wun Gao, Yeong-Her Wang and Te-Kuang Chiang
著作人數3
作者型態Corresponding Author
使用語言英文

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