:::

學術成果

:::
期刊論文
出版日期2018-01-00
期刊等級SCI
論文名稱(篇名)Back-biasing to Performance and Reliability Evaluation of UTBB FDSOI, Bulk FinFETs, and SOI FinFETs
期刊名IEEE Transactions on Nanotechnology
卷數17
期數1
起頁36
迄頁40
總頁數5
作者中文名張文騰
作者英文名Wen-Teng Chang
全部作者Wen-Teng Chang; Cheng-Ting Shih(施政廷); Jhao-Lin Wu(吳昭霖); Shih-Wei Lin(林士瑋); Wen-Kuan Yeh
著作人數5
作者型態First Author / Corresponding Author
使用語言英文

行事曆

« June 2018»
    010203
04050607080910
11121314151617
18192021222324
252627282930
學術榮譽榜

ad01

GRB智慧搜尋系統

活動剪影

2009專題展2009電機專題展啦啦隊103級啦啦隊2011.台電參訪南茂科技參訪活動2014年電機系啦啦隊_亞軍2014年電機系啦啦隊_亞軍南茂實習2013年電機系啦啦隊榮獲冠軍鴻海參訪2017年運動會電機系進場
閱讀更多
cron web_use_log