:::
| 出版日期 | 2018-08-00 |
|---|---|
| 期刊等級 | SCI |
| 論文名稱(篇名) | A Novel Effective-Conducting-Path-Induced Scaling Length Model and Its Application for Assessing Short-Channel Performance of Multiple-Gate MOSFETs |
| 期刊名 | IEEE Trans on Electron DEvices |
| 卷數 | 65 |
| 期數 | 10 |
| 起頁 | 4535 |
| 迄頁 | 4541 |
| 總頁數 | 7 |
| 作者中文名 | 江德光 |
| 作者英文名 | Te-Kung Chiang |
| 全部作者 | Juin J. Liou, Te-Kuang Chiang |
| 著作人數 | 2 |
| 作者型態 | Corresponding Author |
