"Trap Induced Negative Differential Conductance and Back-Gated Charge Redistribution in AlGaN/GaN Power Devices" , Microelectronics Reliability , 102 , 113495 , pp89-93 ,2019, (SCI)

  • 出版日期：2019-09-02
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Trap Induced Negative Differential Conductance and Back-Gated Charge Redistribution in AlGaN/GaN Power Devices
  • 期刊名：Microelectronics Reliability
  • 卷數：102
  • 期數：113495
  • 起頁：89
  • 迄頁：93
  • 總頁數：5
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Andrew T. Binder , Jiann-Shiun Yuan ,Balakrishnan Krishnan , Patrick M. Shea , and Wen-Kuan Yeh
  • 著作人數：5
  • 作者型態：Other