"The Impact of Fin Number on Device Performance and Reliability for Multi-Fin Tri-Gate n-and p-type FinFET" , IEEE Transaction on Device and Materials Reliability , 15 , 1 , pp1-2 ,2018, (SCI)

  • 出版日期：2018-08-23
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：The Impact of Fin Number on Device Performance and Reliability for Multi-Fin Tri-Gate n-and p-type FinFET
  • 期刊名：IEEE Transaction on Device and Materials Reliability
  • 卷數：15
  • 期數：1
  • 起頁：1
  • 迄頁：2
  • 總頁數：2
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh ; Wenqi Zhang ; Po-Ying Chen ; Yi-Lin Yang
  • 著作人數：4
  • 作者型態：Other