出版日期:2017-10-00
期刊等級:SCI
論文名稱(篇名):Performance Evaluation of UTBB FDSOI, FinFETs, and SOI FinFETs via Mechanical Stresses and Body Biasing
期刊名:IEEE Transactions on Nanotechnology
卷數:None
期數:99
起頁:1
迄頁:1
總頁數:1
作者中文名:葉文冠
作者英文名:Wen-Kuan Yeh
全部作者:Wen-Teng Chang; Cheng-Ting Shih; Jhao-Lin Wu(吳昭霖); Shih-Wei Lin(林士瑋), and Wen-Kuan Yeh
著作人數:5
作者型態:Other