"Influence of Fin Number on Hot-Carrier Injection Stress Induced Degradation in Bulk FinFETs" , Microelectronics Reliability , 67 , 1 , pp89-93 ,2016, (SCI)

  • 出版日期：2016-10-00
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Influence of Fin Number on Hot-Carrier Injection Stress Induced Degradation in Bulk FinFETs
  • 期刊名：Microelectronics Reliability
  • 卷數：67
  • 期數：1
  • 起頁：89
  • 迄頁：93
  • 總頁數：5
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wenqi Zhang, Tzuo-Li Wang, Yan-Hua Huang, Tsu-Ting Cheng, Shih-Yao Chen, Yi-Ying Lib, Chun-Hsiang Hsu, Chih-Jui Lai, Wen-Kuan Yeh and Yi-Lin Yang
  • 著作人數：10
  • 作者型態：Other