"Examination of hot-carrier stress induced degradation on fin field-effect transistor" , Applied Physics Letters , 104 , 10 , pp1063-1066 ,2014, (SCI)

  • 出版日期：2014-02-24
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Examination of hot-carrier stress induced degradation on fin field-effect transistor
  • 期刊名：Applied Physics Letters
  • 卷數：104
  • 期數：10
  • 起頁：1063
  • 迄頁：1066
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Yi-Lin Yang, Tzu-Sung Yen, Jia-Jian Hong(洪嘉鍵), Jie-Chen Wong(翁介辰), Chao-Chen Ku, Tai-Hsuan Wu, Tzuo-Li Wang, Chien-Yi Li, Bing-Tze Wu, Shih-Hung Lin, Wen-Kuan Yeh Shih-Hung Lin,3 and Wen-Kuan Yeh2
  • 著作人數：11
  • 作者型態：Other
  • 使用語言：英文