"Effects of Fin Width on Device Performance and Reliability of Double-Gate n-Type FinFETs" , IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES , 60 , 11 , pp3639-3644 ,2013, (SCI)

  • 出版日期：2013-11-00
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Effects of Fin Width on Device Performance and Reliability of Double-Gate n-Type FinFETs
  • 期刊名：IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
  • 卷數：60
  • 期數：60
  • 起頁：3639
  • 迄頁：3644
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名： Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Cheng-Li Lin, Po-Hsiu Hsiao, Wen-Kuan Yeh, Han-Wen Liu, Syuan-Ren Yang, Yu-Ting Chen, Kun-Ming Chen,and Wen-Shiang Liao
  • 著作人數：8
  • 作者型態：Other