"Reliability Analysis of pHEMT Power Amplifier with an On-chip Linearizer" , Microelectronics Reliability , 6 , 53 , pp878-884 ,2013, (SCI)

  • 出版日期：2013-06-00
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Reliability Analysis of pHEMT Power Amplifier with an On-chip Linearizer
  • 期刊名：Microelectronics Reliability
  • 卷數：6
  • 期數：53
  • 起頁：878
  • 迄頁：884
  • 作者中文名： 葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Jiann-Shiun Yuan, Hsu-Der Yen, Guo-Wei Huang, and Wen-Kuan Yeh
  • 著作人數：7
  • 作者型態 Corresponding Author