"Impact of Strain on Hot Electron Reliability of Dual-Band Power Amplifier and Integrated LNA-Mixer RF Performances" , Microelectronics Reliability , 50 , 6 , pp807-812 ,2010, (SCI)

  • 出版日期：2010-06-00
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Impact of Strain on Hot Electron Reliability of Dual-Band Power Amplifier and Integrated LNA-Mixer RF Performances
  • 期刊名：Microelectronics Reliability
  • 卷數：50
  • 期數：6
  • 起頁：807
  • 迄頁：812
  • 總頁數：6
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：J.S. Yuan, J. Ma, C.W. Hsu, and Wen-Kuan Yeh
  • 著作人數：4
  • 作者型態：Corresponding Author
  • 使用語言：英文