"The Impact of Mobility Enhanced Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm SOI nMOSFETs" , Microelectronic Engineering , 84 , 9-10 , pp2077-2080 ,2007, (SCI),(其他)

  • 出版日期：2007-09-00
  • 期刊等級：SCI / 其他
  • 論文名稱(篇名)：The Impact of Mobility Enhanced Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm SOI nMOSFETs
  • 期刊名：Microelectronic Engineering
  • 卷數：84
  • 期數：9-10
  • 起頁：2077
  • 迄頁：2080
  • 總頁數：4
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh
  • 著作人數：1
  • 作者型態：First Author / Corresponding Author
  • 使用語言：英文