"Effects of fin width on performance and reliability for N- and P-type FinFETs",BIT's 3 rd Annual World Congress of Smart Materials-2017,Thailand,2017/03/16-2017/03/18 (SCI)

  • 年度：2017
  • 論文類型：會議論文
  • 論文等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Effects of fin width on performance and reliability for N- and P-type FinFETs
  • 會議名稱：BIT's 3 rd Annual World Congress of Smart Materials-2017
  • 會議開始時間：2017-03-16
  • 會議結束時間：2017-03-18
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh ; Wenqi Zhang ; Chia-Hung Shih ; Yi-Lin Yang
  • 著作人數：4
  • 作者型態：Other
  • 會議地點：Thailand