"The impact of fin number on device's performance and reliability in tri-gate FinFETs",Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM),Japan,2017/02/28-2017/03/02 (SCI)

  • 年度：2017
  • 論文類型：會議論文
  • 論文等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：The impact of fin number on device's performance and reliability in tri-gate FinFETs
  • 會議名稱：Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)
  • 會議開始時間：2017-02-28
  • 會議結束時間：2017-03-02
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh ; Po-Ying Chen ; Chia-Hung Shih ; Wenqi Zhang ; Yi-Lin Yang
  • 著作人數：5
  • 作者型態：Other
  • 會議地點：Japan