"Effects of Fin Width on Performance and Reliability for N- and P-type FinFETs",IEEE Proceedings of EDSSC,Hong Kong,2016/08/03-2016/08/05 (SCI)

  • 年度：2016
  • 論文類型：會議論文
  • 論文等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Effects of Fin Width on Performance and Reliability for N- and P-type FinFETs
  • 會議名稱：IEEE Proceedings of EDSSC
  • 會議開始時間：2016-08-03
  • 會議結束時間：2016-08-05
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh, Wenqi Zhang, and Chia-Hung Shih, Yi-Lin Yang
  • 著作人數：4
  • 作者型態：First Author
  • 會議地點：Hong Kong