"The Investigation of Characteristic and Reliability for Multi-Fin p-Channel FinFET",International Electron Devices and Materials Symposia (IEDMS 2015),Tainan,2015/11/19-2015/11/20 (EI)

  • 年度：2015
  • 論文類型：海報展示
  • 論文等級：EI
  • 論文名稱(篇名)：The Investigation of Characteristic and Reliability for Multi-Fin p-Channel FinFET
  • 會議名稱：International Electron Devices and Materials Symposia (IEDMS 2015)
  • 會議開始時間：2015-11-19
  • 會議結束時間：2015-11-20
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Shih-Yao Chen(陳詩堯),Tsu-Ting Cheng,Ying-Ya Chen,Tzuo-Li Wang,Yi-Lin Yang and Wen-Kuan Yeh
  • 著作人數：6
  • 作者型態：First Author
  • 會議地點：Tainan
  • 主辦單位：EDMA(台灣電子元件與材料協會)
  • 使用語言：英文