"The Study on Width Quantization impact on Device Performance and Reliability for high-k/metal Tri- Gate FinFET",IEEE Proceedings of EDSSC,Singapore,2015/06/01-2015/06/05 (SCI)

  • 年度：2015
  • 論文類型：會議論文
  • 論文等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：The Study on Width Quantization impact on Device Performance and Reliability for high-k/metal Tri- Gate FinFET
  • 會議名稱：IEEE Proceedings of EDSSC
  • 會議開始時間：2015-06-01
  • 會議結束時間：2015-06-05
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh, Wenqi Zhang and Yi-Lin Yang
  • 著作人數：3
  • 作者型態：First Author
  • 會議地點：Singapore