"Junction induced Variation and Reliability for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide CMOSFETs",IPFA 2014 FINAL PROGRAMME,Marina Bay Sands , SINGAPORE ,2014/06/30-2014/07/04 (SCI)

  • 年度：2014
  • 論文類型：會議論文
  • 論文等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：Junction induced Variation and Reliability for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide CMOSFETs
  • 會議名稱：IPFA 2014 FINAL PROGRAMME
  • 會議開始時間：2014-06-30
  • 會議結束時間：2014-07-04
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh, Wen-Teng Chang, Po-Ying Chen and Cheng-Li Lin
  • 著作人數：4
  • 作者型態：First Author
  • 會議地點：Marina Bay Sands , SINGAPORE
  • 主辦單位：IEEE Singapore Reliability/CPMT/ED Chapter
  • 使用語言：英文