"Impact of Doping Concentration on Device Characteristics and Reliability in Ultra-Thin-Body and BOX(UTBB) MOSFETs(傑出論文獎)",International Electron Devices and Materials Symposia (IEDMS),Kaohsiung , Taiwan,2012/11/29 (EI)

  • 年度：2012
  • 論文類型：口頭報告
  • 論文等級：EI
  • 論文名稱(篇名)：Impact of Doping Concentration on Device Characteristics and Reliability in Ultra-Thin-Body and BOX(UTBB) MOSFETs(傑出論文獎)
  • 會議名稱：International Electron Devices and Materials Symposia (IEDMS)
  • 會議開始時間：2012-11-29
  • 會議結束時間：2012-11-29
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wenqi Zhang , Jhe-Hao Chang(張哲豪) , Yen-Hsin Chen(陳彥馨) , Yi-Lin Yang , Chun-Ming Lai(賴俊銘) , Shi-Hao Wang , Li-Kong Chin(秦禮功) , Wen-Kuan Yeh
  • 著作人數：8
  • 作者型態：Other
  • 會議地點：Kaohsiung , Taiwan
  • 使用語言：英文