"Capping Layer Induced Degradation in Nano MOSFET with Scaled IL",IEEE International NanoElectronics Conference (INEC),Taoyuan, Taiwan,2011/06/21-2011/06/24

  • 年度：2011
  • 論文類型：口頭報告
  • 論文名稱(篇名)：Capping Layer Induced Degradation in Nano MOSFET with Scaled IL
  • 會議名稱：IEEE International NanoElectronics Conference (INEC)
  • 會議開始時間：2011-06-21
  • 會議結束時間：2011-06-24
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：T-H Lee, S-M Chen, C-W Hsu, Y-K Fang, F-R-Juang, W-K Yeh
  • 著作人數：6
  • 作者型態：Corresponding Author
  • 會議地點：Taoyuan, Taiwan
  • 主辦單位：IEEE
  • 使用語言：英文