年度：2009
論文類型：口頭報告
論文名稱(篇名)：Impact of Oxide Trap Charge on Performance of Strained Fully Depleted SOI Metal-Gate MOSFET
會議名稱：EDSSC
會議開始時間：2009-06-07
會議結束時間：2009-06-11
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：W. K. Yeh, C. C. Wang, C.W. Hsu, Y.K. Fang, S. M. Wu, C. C. Ou, C. L. Lin, K. J. Gan, C. J. Weng, P. Y. Chen, J. S. Yuan, and J. J. Liou
著作人數：12
作者型態：First Author
會議地點：Xi'an, China
使用語言：英文