"Impact of Oxide Trap Charge on Performance of Strained Fully Depleted SOI Metal-Gate MOSFET",EDSSC,Xi'an, China,2009/06/07-2009/06/11

  • 年度：2009
  • 論文類型：口頭報告
  • 論文名稱(篇名)：Impact of Oxide Trap Charge on Performance of Strained Fully Depleted SOI Metal-Gate MOSFET
  • 會議名稱：EDSSC
  • 會議開始時間：2009-06-07
  • 會議結束時間：2009-06-11
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：W. K. Yeh, C. C. Wang, C.W. Hsu, Y.K. Fang, S. M. Wu, C. C. Ou, C. L. Lin, K. J. Gan, C. J. Weng, P. Y. Chen, J. S. Yuan, and J. J. Liou
  • 著作人數：12
  • 作者型態：First Author
  • 會議地點：Xi'an, China
  • 使用語言：英文