"The Impact of Strain Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm FUSI SOI MOSFETs",IEEE Proceedings of EDSSC,Tainan, Taiwan, (其他)

  • 年度：2007
  • 論文類型：其他
  • 論文等級：其他
  • 論文名稱(篇名)：The Impact of Strain Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm FUSI SOI MOSFETs
  • 會議名稱：IEEE Proceedings of EDSSC
  • 會議開始時間：
  • 會議結束時間：
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Jiun-Yu Chen, Jean-An Wang, Wen-Kuan Yeh
  • 著作人數：3
  • 作者型態：Corresponding Author
  • 會議地點：Tainan, Taiwan
  • 使用語言：英文