"The impact of Stress Enhanced Technology for sub-90nm SOI MOSFETs",International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology,Shanghai, China,2006/10/00

  • 年度：2006
  • 論文類型：受邀演講
  • 論文等級：其他
  • 論文名稱(篇名)：The impact of Stress Enhanced Technology for sub-90nm SOI MOSFETs
  • 會議名稱：International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology
  • 會議開始時間：2006-10-00
  • 會議結束時間：2006-10-00
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Wen-Kuan Yeh, Chieh-Ming Lai, Chien-Ting Lin, Yean-Kuen Fang
  • 著作人數：4
  • 作者型態：First Author
  • 會議地點：Shanghai, China
  • 使用語言：英文