"he Impact of Strained Engineering for 65nm FUSI CMOSFETs",IEEE Proceedings of Device Research Conference,Penn State, (其他)

  • 年度：2006
  • 論文類型：其他
  • 論文等級：其他
  • 論文名稱(篇名)：he Impact of Strained Engineering for 65nm FUSI CMOSFETs
  • 會議名稱：IEEE Proceedings of Device Research Conference
  • 會議開始時間：
  • 會議結束時間：
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：Chieh-Ming Lai, Yean-Kuen Fang, Wen-Kuan Yeh, Chien-Ting Lin
  • 著作人數：4
  • 作者型態：Penn State
  • 會議地點：Corresponding Author
  • 使用語言：英文