年度 2016
論文類型 海報展示
論文等級 其他
論文名稱(篇名) Heat Stress Impacting Early Effect of Nano p-channel FinFETs at High Gate Field
會議名稱 IEDMS
會議開始時間 2016-11-24
會議結束時間 2016-11-25
作者中文名 藍文厚
作者英文名 Wen-How Lan
全部作者 Chii-Wen Chen, Ting-Wei Chao, Chen-Wei Zhang, Hui-Yun Bor, Mu-Chun Wang, Jhen-Wei Tien1, Wen-How Lan
著作人數 7
作者型態 Corresponding Author
會議地點 國立臺灣師範大學