出版日期 2018-01-00
期刊等級 SCI
論文名稱(篇名) Back-biasing to Performance and Reliability Evaluation of UTBB FDSOI, Bulk FinFETs, and SOI FinFETs
期刊名 IEEE Transactions on Nanotechnology
卷數 17
期數 1
起頁 36
迄頁 40
總頁數 5
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang; Cheng-Ting Shih(施政廷); Jhao-Lin Wu(吳昭霖); Shih-Wei Lin(林士瑋); Wen-Kuan Yeh
著作人數 5
作者型態 First Author / Corresponding Author
使用語言 英文