年度 2016
論文類型 會議論文
論文等級 其他
論文名稱(篇名) Electrical Gate and Mechanical Stresses on <110> and <100> n-Type FinFETs
會議名稱 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS)
會議開始時間 2016-11-24
會議結束時間 2016-11-25
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang, Shih-Wei Lin(林士瑋), Wen-Kuan Yeh
著作人數 3
作者型態 First Author / Corresponding Author
會議地點 Taipei