"A New Short-Channel-Effect-Degraded Subthrehold Behavior Model for Double-Fin Multi-Channel FETs (DFMcFETs)" , IEEE Transactions on Nanotechnology , 16 , 1 , pp16-22 ,2017, (SCI)

  • 出版日期：2017-01-00
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：A New Short-Channel-Effect-Degraded Subthrehold Behavior Model for Double-Fin Multi-Channel FETs (DFMcFETs)
  • 期刊名：IEEE Transactions on Nanotechnology
  • 卷數：16
  • 期數：1
  • 起頁：16
  • 迄頁：22
  • 總頁數：7
  • 作者中文名：江德光
  • 作者英文名：Te-Kung Chiang
  • 全部作者：Chiang Te-Kuang
  • 著作人數：1
  • 作者型態：First Author / Corresponding Author
  • 使用語言：英文