出版日期:2010-08-00
期刊等級:SCI
論文名稱(篇名):The Analytical Compact Threshold Voltage Model for Surrounding-gate MOSFETs With Interface Trapped Charges
期刊名:IEEE Electron Device Letters
卷數:vol. 31
期數:no.8
起頁:788
迄頁:790
總頁數:3
作者中文名:江德光
作者英文名:Te-Kung Chiang
全部作者:T.K. Chiang
著作人數:1
作者型態:First Author / Corresponding Author
使用語言:英文