"A Generalized Electrostatic Scale Length for Fully depleted Surrounding-Gate Metal-oxide-semiconductor Field Effect Transistors" , Japanese Journal of Applied Physics , vol.44 , no.9A , pp6452-6457 ,2005, (SCI)

  • 出版日期：2005-09-00
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)： A Generalized Electrostatic Scale Length for Fully depleted Surrounding-Gate Metal-oxide-semiconductor Field Effect Transistors
  • 期刊名：Japanese Journal of Applied Physics
  • 卷數：vol.44
  • 期數：no.9A
  • 起頁：6452
  • 迄頁：6457
  • 總頁數：6
  • 作者中文名：江德光
  • 作者英文名：Te-Kung Chiang
  • 全部作者：T.K. Chiang
  • 著作人數：1
  • 作者型態：First Author / Corresponding Author
  • 使用語言：英文