出版日期:2005-02-00
期刊等級:SCI
論文名稱(篇名): A Scaling theory for Fully-depleted, Surrounding-gate MOSFET’s: including effective conducting path effect
期刊名:Microelectronic Engineering
卷數:vol.77
期數:no.2
起頁:175
迄頁:183
總頁數:9
作者中文名:江德光
作者英文名:Te-Kung Chiang
全部作者:T.K. Chiang
著作人數:1
作者型態:First Author / Corresponding Author
使用語言:英文