A Short-Channel-Effect-Degraded Noise Margin Model for Junctionless Quadruple-Gate MOSFETs Working on Low Power CMOS Logic Gates
- 年度：2017
- 論文類型：口頭報告/海報展示
- 論文等級：EI
- 論文名稱(篇名)：A Short-Channel-Effect-Degraded Noise Margin Model for Junctionless Quadruple-Gate MOSFETs Working on Low Power CMOS Logic Gates
- 會議名稱：International Electron Devices & Materials Symposium 2017 (IEDMS 2017)
- 會議開始時間：2017-09-06
- 會議結束時間：2017-09-08
- 作者中文名：江德光
- 作者英文名：Te-Kung Chiang
- 全部作者：Hong-Wun Gao,Yeong-Her Wang,Ying-Wen Ko(柯盈彣) and Te-Kuang Chiang
- 著作人數：4
- 作者型態：Corresponding Author
- 會議地點：National Chiao Tung University, Taiwan
- 使用語言：英文
