An Investigation on the Body Effect Caused by Charge Distribution in the Oxide for the MOSFET’s

  • 年度：2005
  • 論文類型：會議論文
  • 論文等級：其他
  • 論文名稱(篇名)：An Investigation on the Body Effect Caused by Charge Distribution in the Oxide for the MOSFET’s
  • 會議名稱：2005 Conference on Microoelectronics Technology & Applications
  • 會議開始時間：2005-00-00
  • 會議結束時間：2005-00-00
  • 作者中文名：江德光
  • 作者英文名：Te-Kung Chiang
  • 全部作者：T.K. Chiang and Hsin-Liang Lin
  • 著作人數：2
  • 作者型態：First Author
  • 會議地點：Kaoshiung,Taiwan
  • 使用語言：英文