年度 2014
論文類型 會議論文
論文等級 其他
論文名稱(篇名) Junction induced Variation and Reliability for Ultra-Thin-Body and Bulk Oxide
會議名稱 2014 21th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
會議開始時間 2014-06-30
會議結束時間 2014-07-04
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Kuan Yeh, wen-Teng Chang, Po-Ying Chen, Cheng-Li Lin
著作人數 4
作者型態 Other
會議地點 Singapore