年度 2013
論文類型 口頭報告 / 會議論文
論文等級 其他
論文名稱(篇名) Reliability of Doping Concentration in Ultra-Thin-Body and Buried Oxide Silicon on Insulator
會議名稱 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS)
會議開始時間 2013-11-28
會議結束時間 2013-11-29
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang, Chun-Ming Lai, and Wen-Kuan Yeh
著作人數 3
作者型態 First Author / Corresponding Author
會議地點 南投