年度 2010
論文類型 會議論文 / 其他
論文等級 其他
論文名稱(篇名) External Compressive Stresses on Gate Capping Layer of Partially Depleted Silicon-on-Insulator MOSFETs
會議名稱 WoDiM
會議開始時間 2010-06-28
會議結束時間 2010-06-30
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang, Jian-An Lin, Chih-Chung Wang, Wen-Kuan Yeh
著作人數 4
作者型態 First Author
會議地點 Bratislava, Slovak Republic
使用語言 英文