Wen-Teng Chang, Yu-Yen Ho(何俞彥), Shih-Wei Lin(林士瑋), Shang-Min, Li(李尚閔),"Characterization of Extended Quantized Width FinFETs",International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS),Taipei,2016/11/24-2016/11/25 (其他)
年度 2016
論文類型 會議論文
論文等級 其他
論文名稱(篇名) Characterization of Extended Quantized Width FinFETs
會議名稱 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS)
會議開始時間 2016-11-24
會議結束時間 2016-11-25
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang, Yu-Yen Ho(何俞彥), Shih-Wei Lin(林士瑋), Shang-Min, Li(李尚閔)
著作人數 4
作者型態 First Author / Corresponding Author
會議地點 Taipei
論文類型 會議論文
論文等級 其他
論文名稱(篇名) Characterization of Extended Quantized Width FinFETs
會議名稱 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS)
會議開始時間 2016-11-24
會議結束時間 2016-11-25
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang, Yu-Yen Ho(何俞彥), Shih-Wei Lin(林士瑋), Shang-Min, Li(李尚閔)
著作人數 4
作者型態 First Author / Corresponding Author
會議地點 Taipei
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