出版日期：2014-02-24
期刊等級：SCI
論文名稱(篇名)：Examination of hot-carrier stress induced degradation on fin field-effect transistor
期刊名：Applied Physics Letters
卷數：104
期數：10
起頁：1063
迄頁：1066
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Yi-Lin Yang, Tzu-Sung Yen, Jia-Jian Hong(洪嘉鍵), Jie-Chen Wong(翁介辰), Chao-Chen Ku, Tai-Hsuan Wu, Tzuo-Li Wang, Chien-Yi Li, Bing-Tze Wu, Shih-Hung Lin, Wen-Kuan Yeh Shih-Hung Lin,3 and Wen-Kuan Yeh2
著作人數：11
作者型態：Other
使用語言：英文
