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"RF stress effects on CMOS LC-loaded VCO reliability evaluated by experiments" , Microelectronics Reliability , 12 , 2 , pp369-374 ,2012, (SCI)

  • 出版日期：2012-05-00
  • 期刊等級：SCI
  • 論文名稱(篇名)：RF stress effects on CMOS LC-loaded VCO reliability evaluated by experiments
  • 期刊名：Microelectronics Reliability
  • 卷數：12
  • 期數：2
  • 起頁：369
  • 迄頁：374
  • 總頁數：6
  • 作者中文名：葉文冠
  • 作者英文名：Wen-Kuan Yeh
  • 全部作者：H.D. Yen, J.S. Yuan, R.L. Wang, G.W. Huang, W.K. Yeh , and F.S. Huang
  • 著作人數：6
  • 作者型態： Other
  • 備註：In Press
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