<li><span style="color:#0000ff;">出版日期</span>：2008-10-00</li>
<li><span style="color:#0000ff;">期刊等級</span>：SCI / 其他 </li>
<li><span style="color:#0000ff;">論文名稱(篇名)</span>：Elucidating the Effects of Current Stress History on Reliability Characteristics by Dynamic Analysis</li>
<li><span style="color:#0000ff;">期刊名</span>：Japanese Journal of Applied Physics</li>
<li><span style="color:#0000ff;">卷數</span>：47</li>
<li><span style="color:#0000ff;">期數</span>：10</li>
<li><span style="color:#0000ff;">起頁</span>：7836</li>
<li><span style="color:#0000ff;">迄頁</span>：7838</li>
<li><span style="color:#0000ff;">總頁數</span>：3</li>
<li><span style="color:#0000ff;">作者中文名</span>：葉文冠</li>
<li><span style="color:#0000ff;">作者英文名</span>：Wen-Kuan Yeh</li>
<li><span style="color:#0000ff;">全部作者</span>：Po-Ying CHEN, Shen-Li CHEN, Ming-Hsing TSAI, Wen-Kuan YEH, Heng-Yu Kung, and Yu Kuan CHANG</li>
<li><span style="color:#0000ff;">著作人數</span>：6</li>
<li><span style="color:#0000ff;">作者型態</span>：Other</li>
<li><span style="color:#0000ff;">使用語言</span>：英文</li>