年度：2011
論文類型：口頭報告
論文名稱(篇名)：Capping Layer Induced Degradation in Nano MOSFET with Scaled IL
會議名稱：IEEE International NanoElectronics Conference (INEC)
會議開始時間：2011-06-21
會議結束時間：2011-06-24
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：T-H Lee, S-M Chen, C-W Hsu, Y-K Fang, F-R-Juang, W-K Yeh
著作人數：6
作者型態：Corresponding Author
會議地點：Taoyuan, Taiwan
主辦單位：IEEE
使用語言：英文
