年度：2009
論文類型：受邀演講
論文等級：其他
論文名稱(篇名)：The Impact of Strain Technology on Device Characteristic and Reliability for FUSI Gate SOI CMOSFET
會議名稱：IEDMS
會議開始時間：2008-11-00
會議結束時間：2008-11-00
作者中文名：葉文冠
作者英文名：Wen-Kuan Yeh
全部作者：Wen-Kuan Yeh, Jean-An Wang , Chien-Ting Lin
著作人數：3
作者型態：First Author
會議地點：Taiwan
使用語言：英文
