"The Impact of Mobility Enhanced Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm SOI nMOSFETs",Proceedings of INFOS,Athen, Greece, (其他)

年度：2007

論文類型：其他

論文等級：其他

論文名稱(篇名)：The Impact of Mobility Enhanced Technology on Device Performance and Reliability for sub-90nm SOI nMOSFETs

會議名稱：Proceedings of INFOS

會議開始時間：

會議結束時間：

作者中文名：葉文冠

作者英文名：Wen-Kuan Yeh

全部作者：Wen-Kuan Yeh, Chieh-Ming Lai, Chien-Ting Lin, Yean-Kuen Fang

著作人數：4

作者型態：First Author

會議地點：Athen, Greece

使用語言：英文

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