Jump to the main content block

 

Wen-Teng Chang,"Stress-induced capacitance of partially depleted MOSFETs from ring oscillator delay" , IEICE Transactions on Electronics , E95-C , 5 , pp802-806 ,2012, (SCI)

出版日期 2012-05-01
期刊等級 SCI
論文名稱(篇名) Stress-induced capacitance of partially depleted MOSFETs from ring oscillator delay
期刊名 IEICE Transactions on Electronics
卷數 E95-C
期數 5
起頁 802
迄頁 806
總頁數 5
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang
著作人數 1
作者型態 First Author / Corresponding Author
ISSN(ISBN) 0916-8524
Click Num:
Login Success