出版日期 2010-08-00
期刊等級 SCI
論文名稱(篇名) External Stresses on Tensile and Compressive Contact Etching Stop Layer SOI MOSFETs
期刊名 IEEE Transactions on Electron Devices
卷數 Vol.57
期數 No.8
起頁 1889
迄頁 1894
總頁數 6
作者中文名 張文騰
作者英文名 Wen-Teng Chang
全部作者 Wen-Teng Chang, Chih-Chung Wang, Jian-An Lin(林建安), Wen-Kuan Yeh
著作人數 4
作者型態 First Author / Corresponding Author
ISSN(ISBN) 0018-9383
參考網址 http://ieeexplore.ieee.org/Xplore/login.jsp?url=http%3A%2F%2Fieeexplore.ieee.org%2Fiel5%2F16%2F5518459%2F05497124.pdf%3Farnumber%3D5497124&authDecision=-203
使用語言 英文
所屬計畫案 利用電晶體及環形振盪器製作壓阻感測器