"Effects of Fin Width on Performance and Reliability for N- and P-type FinFETs",IEEE Proceedings of EDSSC,Hong Kong,2016/08/03-2016/08/05 (SCI)

年度：2016

論文類型：會議論文

論文等級：SCI

論文名稱(篇名)：Effects of Fin Width on Performance and Reliability for N- and P-type FinFETs

會議名稱：IEEE Proceedings of EDSSC

會議開始時間：2016-08-03

會議結束時間：2016-08-05

作者中文名：葉文冠

作者英文名：Wen-Kuan Yeh

全部作者：Wen-Kuan Yeh, Wenqi Zhang, and Chia-Hung Shih, Yi-Lin Yang

著作人數：4

作者型態：First Author

會議地點：Hong Kong

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