"The impact of Stress Enhanced Technology for sub-90nm SOI MOSFETs",International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology,Shanghai, China,2006/10/00

年度：2006

論文類型：受邀演講

論文等級：其他

論文名稱(篇名)：The impact of Stress Enhanced Technology for sub-90nm SOI MOSFETs

會議名稱：International Conference on Solid-State and Integrated-Circuit Technology

會議開始時間：2006-10-00

會議結束時間：2006-10-00

作者中文名：葉文冠

作者英文名：Wen-Kuan Yeh

全部作者：Wen-Kuan Yeh, Chieh-Ming Lai, Chien-Ting Lin, Yean-Kuen Fang

著作人數：4

作者型態：First Author

會議地點：Shanghai, China

使用語言：英文

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