年度 2015
論文類型 海報展示
論文等級 EI
論文名稱(篇名) Electrical Performance of Dense and Isolated n-type FinFETs in Micro-loading Effect
會議名稱 The 4th International Symposium on Next-Generation Electronics
會議開始時間 2015-05-04
會議結束時間 2015-05-06
作者中文名 藍文厚
作者英文名 Wen-How Lan
全部作者 Mu-Chun Wang,Jian-Liang Lin,De-Huang Jhuang,Wen-Shiang Liao,Yi-De Lai,Wen-How Lan,Shea-Jue Wang
著作人數 7
作者型態 Corresponding Author
會議地點 台灣