2008 High-efficiency test pattern generating mechanism
- 出版日期：2008-04-00
- 期刊等級：SCI / 其他
- 論文名稱(篇名)：High-efficiency test pattern generating mechanism
- 期刊名：International Journal of Electronics
- 卷數：95
- 期數：4
- 起頁：371
- 迄頁：382
- 總頁數：12
- 作者中文名：陳春僥
- 作者英文名：Chuen-Yau Chen
- 全部作者：C. Y. Chen
- 著作人數：1
- 作者型態：First Author
- 使用語言：英文
瀏覽數: